Rasterkraftmikroskop, Abkürzung AFM [von englisch atomic force microscope], kurz Kraftmikroskop, veraltet Atomkraftmikroskop, Weiterentwicklung des Rastertunnelmikroskops, mit dem die Oberflächen leitender und nicht leitender Proben mit atomarer Auflösung

(27 von 213 Wörtern)
Möchten Sie Zugriff auf den vollständigen Artikelinhalt?

Quellenangabe
Brockhaus, Rasterkraftmikroskop. http://www.brockhaus.de/ecs/enzy/article/rasterkraftmikroskop